|
Advanced Metrology
|
| Auteur: X. Jane Jiang; Paul J. Scott |
| ISBN: 9780128218167 |
|
| Prijs: € 209.83 |
| Uitgever: Elsevier S & T |
| Verschijningsvorm: E-book |
|
Printuitgave Deze titel is ook beschikbaar in print voor: € 193.50
Klik hier voor de gegevens van de printuitgave
|
|
|
|
|
Download
Lees meer
info ebook
|
|
|
Advanced Metrology Freeform Surfaces
|
| Auteur: Jiang, X. Jane |
| ISBN: 9780128218150 |
|
| Prijs: € 193.50 |
| Uitgever: Elsevier Science Publishing Co |
| Bericht: Langere levertijd (2-3 weken) |
| Verschijningsvorm: Hardback |
|
|
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
|
Advanced Metrology Freeform Surfaces
|
| Auteur: Scott; Jiang, Jane X. |
| ISBN: 9780128173237 |
| Prijs: € 175.36 |
| Uitgever: Elsevier Science Publishing Co |
| Bericht: Nog niet verschenen |
| Verschijningsvorm: Paperback / softback |
|
|
|
Bestellen
Lees meer
|
|
nl
en