Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Zayed, Ahmed I.
Redactie:	Zayed, Ahmed I.
Titel:	Sampling, Wavelets, and Tomography
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461264958
Serie:	Applied and Numerical Harmonic
Editie:	Softcover reprint of the original 1st ed. 2004
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 90,50
Verschijningsdatum:	04-10-2012
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Image processing
Geillustreerd:	XXI, 344 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	344
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	569