Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Dorey, A.P.; Jones, B.K.
Titel:	Rapid Reliability Assessment of VLSICs
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461278795
Editie:	Softcover reprint of the original 1st ed. 1990
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 62.21
Verschijningsdatum:	08-03-2012
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Electronic devices & materials
Geillustreerd:	212 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	212
Hoogte mm.:	244
Breedte mm.:	170
Gewicht gr.:	382

 

Inhoud:

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.