Hoofdkenmerken
Auteur:
Wang, Zheng; Chattopadhyay
Titel:
High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Uitgever:
Springer Verlag, Singapore
ISBN:
9789811093210
Serie:
Computer Architecture and Design Methodologies
Editie:
Softcover reprint of the original 1st ed. 2018
Land van oorsprong:
Singapore
Prijs:
€ 113.98
Verschijningsdatum:
12-05-2018
Bericht:
Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Categorie:
Computer hardware
Geillustreerd:
72 Illustrations, color; 32 Illustrations, black and white; XX, 197 p. 104 illus., 72 illus. in color.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm:
Paperback / softback
Paginas:
197
Hoogte mm.:
235
Breedte mm.:
155
Inhoud: This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors.
nl
en
