Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Shreve, Andrew P.
Redactie:	Shreve, Andrew P. (Los Alamos National Laboratory)
Titel:	Spatially Resolved Characterization of Local Phenomena in Materials and Nanostructures: Volume 738
Uitgever:	Materials Research Society
ISBN:	9781558996755
Serie:	MRS Proceedings
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 24.88
Verschijningsdatum:	27-03-2003
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Tertiary Education (US: College)
Categorie:	Materials science
Geillustreerd:	Worked examples or Exercises

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	425
Gewicht gr.:	682

 

Inhoud:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.