Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Wang, Sheng-Kai
Titel:	Kinetic Studies in GeO2/Ge System A Retrospective from 2021
Uitgever:	Taylor & Francis Ltd
ISBN:	9781032257440
Serie:	Frontiers in Semiconductor Technology
Land van oorsprong:	United Kingdom
Prijs:	€ 145.65
Verschijningsdatum:	14-06-2022
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Electronic devices & materials
Geillustreerd:	4 Tables, black and white; 88 Line drawings, black and white; 14 Halftones, black and white; 102 Illustrations, black and white

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	134
Hoogte mm.:	229
Breedte mm.:	152
Gewicht gr.:	326

 

Inhoud:

This title investigates reaction kinetics in GeO2/Ge systems, aiming to demonstrate the fundamentals of the GeO2/Ge interface and to give insight into the distinctive features and performance of Ge (germanium) applied to advanced complementary metal oxide semiconductor (CMOS) devices.