Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Canal, Ramon
Redactie:	Canal, Ramon (Associate Professor, Universitat Politecnica de Catalunya-Barcelona Tech (UPC), Facultat d'Informatica de Barcelona, Catalonia, Spain)
Titel:	Cross-Layer Reliability of Computing Systems
Uitgever:	Institution of Engineering and
ISBN:	9781785617973
Serie:	Materials, Circuits and Devices
Land van oorsprong:	United Kingdom
Prijs:	€ 151.94
Verschijningsdatum:	22-10-2020
Bericht:	Tijdelijk niet leverbaar - levertijd onbekend

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:

Electronics engineering

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	328
Hoogte mm.:	234
Breedte mm.:	156

 

Inhoud:

This book presents state-of-the-art solutions for increasing the resilience of computing systems, both at single levels of abstraction and multi-layers. It is a valuable resource for researchers, postgraduate students and professional computer architects focusing on the dependability of computing systems.