Nederlands
  nl
English
  en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Sampling, Wavelets, and Tomography
Hoofdkenmerken
Auteur: Zayed, Ahmed I.
Redactie: Zayed, Ahmed I.
Redacteur: Benedetto, John. J.
Titel: Sampling, Wavelets, and Tomography
Uitgever: Birkhauser Boston Inc
ISBN: 9780817643041
ISBN boekversie: 9780817682125
Serie: Applied and Numerical Harmonic
Editie: 2004 ed.
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 113,13
Verschijningsdatum: 10-12-2003
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Technical / Manuals
Categorie: Maths for engineers
Geillustreerd: XXI, 344 p.
Dewey code: 515.2433
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 344
Hoogte mm.: 235
Breedte mm.: 155
Gewicht gr.: 1540
 

Inhoud:

Sampling, wavelets, and tomography are three areas of contemporary mathematics sharing common roots that lie at the heart of harmonic and Fourier analysis. Aimed at mathematicians, scientists, and engineers working in signal and image processing and medical imaging, this work is accessible to an audience with diverse mathematical backgrounds.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
Welkom bij SALUS