Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Adams, Daniel; Alford, Terry
Titel:	Silver Metallization Stability and Reliability
Uitgever:	Springer London Ltd
ISBN:	9781848000261
ISBN boekversie:	9781848000278
Serie:	Engineering Materials and
Editie:	2008 ed.
Land van oorsprong:	United Kingdom
Prijs:	€ 135,75
Verschijningsdatum:	19-10-2007
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Undergraduate
Categorie:	Metals technology / metallurgy
Geillustreerd:	10 Tables, black and white; 66 Illustrations, black and white; XII, 123 p. 66 illus.
Dewey code:	621.3815

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	123
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	377

 

Inhoud:

Here is the first book to discuss the current understanding of silver metallization and its potential as a future interconnect material for integrated circuit technology. With the lowest resistivity of all metals, silver is an attractive interconnect material for higher current densities and faster switching speeds in integrated circuits.