Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Chen, Hsinchun
Titel:	Mapping Nanotechnology Innovations and Knowledge Global and Longitudinal Patent
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9780387716190
ISBN boekversie:	9780387716206
Serie:	Integrated Series in
Editie:	2009 ed.
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 158.38
Verschijningsdatum:	01-08-2008
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Undergraduate
Categorie:	Nanotechnology
Geillustreerd:	117 Tables, black and white; XIX, 330 p.
Dewey code:	620.5

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	330
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	714

 

Inhoud:

The result of these analyses is be a systematic presentation of the state of the art of nanotechnology, which will include basic analysis, content analysis, and citation network analysis of comprehensive nanotechnology findings across technology domains, inventors, institutions, and countries.