Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Dorey, A.P.; Jones, B.K.
Titel:	Rapid Reliability Assessment of VLSICs
Uitgever:	Springer Science+Business
ISBN:	9780306434921
Editie:	1990 ed.
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 81,46
Verschijningsdatum:	30-04-1990
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Undergraduate
Categorie:	Electronics engineering
Geillustreerd:	212 p.
Dewey code:	621.395

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	212
Gewicht gr.:	570

 

Inhoud:

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.