Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Tan, Cher Ming; Li, Wei
Co Auteur:	Wei Li
Titel:	Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Uitgever:	Springer London Ltd
ISBN:	9780857293091
ISBN boekversie:	9780857293107
Serie:	Springer Series in Reliability Engineering
Land van oorsprong:	United Kingdom
Prijs:	€ 113.98
Verschijningsdatum:	07-03-2011
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Electronic devices & materials
Geillustreerd:	VIII, 152 p.
Dewey code:	621.395

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	152
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155

 

Inhoud:

Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections provides a detailed description of the application of finite element methods (FEMs) to the study of ULSI interconnect reliability.