Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Williams, David B.
Redactie:	Williams, David B.
Titel:	Transmission Electron Microscopy Diffraction, Imaging, and Spectrometry
Uitgever:	Springer International
ISBN:	9783319266497
ISBN boekversie:	9783319266510
Editie:	1st ed. 2016
Land van oorsprong:	Switzerland
Prijs:	€ 139.31
Verschijningsdatum:	05-09-2016
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	300 Illustrations, black and white

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	518
Hoogte mm.:	288
Breedte mm.:	217
Dikte mm.:	27
Gewicht gr.:	1862