Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Williams, David B.
Redactie:	Williams, David B.
Redacteur:	Williams, David B.
Titel:	X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781461357384
Editie:	Softcover reprint of the original 1st ed. 1995
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 147,07
Verschijningsdatum:	21-10-2012
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	XVIII, 372 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	372
Hoogte mm.:	255
Breedte mm.:	179
Dikte mm.:	25
Gewicht gr.:	732

 

Inhoud:

From its early days in the 1950s, the electron microanalyzer has offered two principal ways of obtaining x-ray spectra: wavelength dispersive spectrometry (WDS), which utilizes crystal diffraction, and energy dispersive spectrometry (EDS), in which the x-ray quantum energy is measured directly.