Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Goldstein, Joseph I.;
Titel:	Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781493966745
ISBN boekversie:	9781493966769
Editie:	Fourth Edition 2018
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 123,24
Verschijningsdatum:	18-11-2017
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	409 Illustrations, color; 137 Illustrations, black and white; XXIII, 550 p. 546 illus., 409 illus. in color. With online files/update.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	550
Hoogte mm.:	217
Breedte mm.:	284
Dikte mm.:	34
Gewicht gr.:	1932