Nederlands
  nl
English
  en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Electron Microdiffraction
Hoofdkenmerken
Auteur: Zuo, J.M.; Spence, J.C.H.
Titel: Electron Microdiffraction
Uitgever: Springer Science+Business
ISBN: 9780306442629
Editie: 1992 ed.
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 203,63
Verschijningsdatum: 01-12-1992
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Undergraduate
Categorie: Biology, life sciences
Geillustreerd: XXIV, 358 p.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 358
Hoogte mm.: 234
Breedte mm.: 156
Gewicht gr.: 1590
 

Inhoud:

Much of this book was written during a sabbatical visit by J. Of these, perhaps the most important stimulus to our work on convergent-beam electron diffraction resulted from a visit to the National Science Foundation's Electron Microscopy Facility at Arizona State University by Professor R.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
Welkom bij SALUS