Bestellen Terug

Hoofdkenmerken

Auteur:	Gao, Wei
Titel:	Precision Nanometrology Sensors and Measuring Systems
Uitgever:	Springer London Ltd
ISBN:	9781447157434
Serie:	Springer Series in Advanced
Editie:	2010 ed.
Land van oorsprong:	United Kingdom
Prijs:	€ 147,07
Verschijningsdatum:	04-11-2014
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Professional & Vocational
Categorie:	Automatic control engineering
Geillustreerd:	3 Tables, black and white; XIII, 354 p.

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Paperback / softback
Paginas:	354
Hoogte mm.:	235
Breedte mm.:	155
Gewicht gr.:	569

 

Inhoud:

Precision Nanometrology describes the new field of precision nanometrology, which plays an important part in nanoscale manufacturing of semiconductors, optical elements, precision parts and similar items.